商品编码 90308200.00  
商品名称 测试或检验半导体晶圆或器件(包括集成电路)用的仪器
商品描述 测试或检验半导体晶圆或器件(包括集成电路)用的仪器
英文名称 Other instruments and apparatus For measuring or checking semiconductor wafers or devices
HS编码 90308200.00 申报实例信息,收录数 476 条
HS编码 商品名称 商品规格
90308200.00 测试机 (测试LED半导体,电气性能)(TH-8000)
90308200.00 硅片微粒子检测仪 (旧)(SFS62001995年产)
90308200.00 晶闸管浪涌电流测试仪 检测半导体晶片|测试芯片参数|无|无牌|DBC-101
90308200.00 晶闸管断态电压临界上升率测试仪 检测半导体晶片|测试芯片参数|无|无牌|DBC-061
90308200.00 晶闸管伏安特性、触发特性、关断时间综合测试仪 检测半导体晶片|测试芯片参数|无|无牌|DBC-021
90308200.00 晶闸管通态峰值电压测试仪 检测半导体晶片|测试芯片参数|无|无牌|DBC-011
90308200.00 半导体晶片测试机 用于半导体晶片测试|检测晶体管电性能参数的功能|不带记
90308200.00 多功能数字集成电路测试系统 用于测试混合电路芯片;泰瑞达;测试混合电路芯片;J75
90308200.00 高速高精度转换器测试仪 用于测试混合电路芯片;泰瑞达;测试混合电路芯片;J75
90308200.00 电量测试机(旧) 用于半导体芯片制造企业或科研单位;AGILENT,TE