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| 商品编码 | 90308200.00 |
| 商品名称 | 测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器 |
| 商品描述 | 测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器 |
| 英文名称 | Other instruments and apparatus For measuring or checking semiconductor wafers or devices |
HS编码 90308200.00 申报实例信息,收录数 476 条
| HS编码 | 商品名称 | 商品规格 |
|---|---|---|
| 90308200.00 | 分立元件测试器 | (用于测量晶体管、二极管,品牌:RS,欧姆(有显示结果,显示电阻值,测试范围2kΩ-200) |
| 90308200.00 | 硅片断面特性检测仪 | (旧)(S-43002001年产) |
| 90308200.00 | 集成电路检测仪 | (测试仪用)(RENESAS牌R0K33026AS000BE) |
| 90308200.00 | I.C测试器 | (用于测试I.C是否故障,有显示结果,192503)(显示是否故障,适用于最多40个引脚的设备,) |
| 90308200.00 | 半导体晶片测试仪 | (OMICRONCPC100) |
| 90308200.00 | 二极管测试机 | (JL-16) |
| 90308200.00 | 集成电路检测仪 | (品牌:AMD)(用于检测CPU记存器是否有数据) |
| 90308200.00 | 半导体测试机 | (GPC-A351) |
| 90308200.00 | 硅片离子注入状态检测仪 | (旧)(TP4201995年产) |
| 90308200.00 | 硅片外延状态检测仪 | (旧)(QS-3001991年产) |
上一编码实例：90304090.00-其他无线电通讯专用仪器及装置
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