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| 商品编码 | 90308200.00 |
| 商品名称 | 测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器 |
| 商品描述 | 测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器 |
| 英文名称 | Other instruments and apparatus For measuring or checking semiconductor wafers or devices |
HS编码 90308200.00 申报实例信息,收录数 476 条
| HS编码 | 商品名称 | 商品规格 |
|---|---|---|
| 90308200.00 | 硅片平面特性检测仪 | (旧)(S-88201996年产) |
| 90308200.00 | 集成电路检测仪 | (测试仪用)(RENESAS牌HS0005KCU01H) |
| 90308200.00 | 芯片自动测试仪 | (DS-168) |
| 90308200.00 | 无独立使用功能的半导体测试机 | (半导体测试机备件DS-610T) |
| 90308200.00 | 测试仪用于检测半导体晶片的信 | (号功能STM牌STX-RLINK) |
| 90308200.00 | 集成电路检测仪 | (测试仪用)(Magnachip牌SESO0700134) |
| 90308200.00 | 晶粒特性检测仪 | (旧)(371A1993年产) |
| 90308200.00 | 半导体测试治具/NVIDIA牌 | (600-50358-0500-100) |
| 90308200.00 | 内存条测试机 | (品牌:M&T)(PVL-D/P5B测试内存条通路,判断) |
| 90308200.00 | 全自动模块检测机 | (SINOCARD牌MTM-100型) |
上一编码实例：90304090.00-其他无线电通讯专用仪器及装置
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