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| 商品编码 | 90308200.00 |
| 商品名称 | 测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器 |
| 商品描述 | 测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器 |
| 英文名称 | Other instruments and apparatus For measuring or checking semiconductor wafers or devices |
HS编码 90308200.00 申报实例信息,收录数 476 条
| HS编码 | 商品名称 | 商品规格 |
|---|---|---|
| 90308200.00 | 半导体测试治具/NVIDIA牌 | (600-10551-0001-000) |
| 90308200.00 | 半导体检测器 | (uni580/spider01) |
| 90308200.00 | 硅片金属膜厚度检测仪 | (旧)(MG-3001994年产) |
| 90308200.00 | 晶体检测仪 | (NP3112816) |
| 90308200.00 | 芯片测试机 | (320MX(品牌:SPEA)) |
| 90308200.00 | 晶体频率测试仪 | (型号KH8210KOLINKER牌) |
| 90308200.00 | 半导体晶体测试仪 | (型号:KG200KOLINKER牌) |
| 90308200.00 | 测试机 | (测试或检验半导体晶片或器件用) |
| 90308200.00 | 硅片自动分选机 | (旧)(Roba1502Ls1999年产) |
| 90308200.00 | 晶体中间频率测试仪 | (型号KS300KOLINKER牌) |
上一编码实例：90304090.00-其他无线电通讯专用仪器及装置
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