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| 商品编码 | 90308200.00 |
| 商品名称 | 测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器 |
| 商品描述 | 测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器 |
| 英文名称 | Other instruments and apparatus For measuring or checking semiconductor wafers or devices |
HS编码 90308200.00 申报实例信息,收录数 476 条
| HS编码 | 商品名称 | 商品规格 |
|---|---|---|
| 90308200.00 | 测试仪用于检测半导体晶片的信 | (号功能STM牌ST7FLIT2-IND/USB) |
| 90308200.00 | 硅片电阻率检测仪 | (旧)(RS55TC1993年产) |
| 90308200.00 | 半导体检测仪,品牌ASM. | (用于检测贴片机贴装晶体元器件的安装效果,型号2030) |
| 90308200.00 | 硅片杂质浓度检测仪 | (旧)(SSM490i1994年产) |
| 90308200.00 | 三极管电性能检测仪 | (TST-9600B) |
| 90308200.00 | 硅片工艺特征检测仪 | (旧)(HP4145B1993年产) |
| 90308200.00 | 集成电路检测仪 | (测试仪用)NEC牌(PG-FP4-E(无配置无分选功能)) |
| 90308200.00 | 晶片电阻检测仪 | (带记录装置)(AX-1155B) |
| 90308200.00 | 晶体频率测试仪 | (型号KS360KOLINKER牌) |
| 90308200.00 | 硅片厚度检测仪 | (旧)(NANOSPEC1995年产) |
上一编码实例：90304090.00-其他无线电通讯专用仪器及装置
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