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| 商品编码 | 90308200.00 |
| 商品名称 | 测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器 |
| 商品描述 | 测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器 |
| 英文名称 | Other instruments and apparatus For measuring or checking semiconductor wafers or devices |
HS编码 90308200.00 申报实例信息,收录数 476 条
| HS编码 | 商品名称 | 商品规格 |
|---|---|---|
| 90308200.00 | 缺陷检测仪 | ;;;;;AIT |
| 90308200.00 | 开发工具 | QB-V850MINI |
| 90308200.00 | 自动分检测试机 | CASTLE |
| 90308200.00 | 安捷伦集电测试仪 | V5500 |
| 90308200.00 | 516测试分选机/TRIPOD牌 | TH-8120-256-020 |
| 90308200.00 | 自动测试分类机 | H322High power LED) |
| 90308200.00 | 精密LCR表 | 牌子:AGILTNT 型号:E4980A |
| 90308200.00 | d33测量仪 | 用于测量 |
| 90308200.00 | 半导体分立器件测试系统 | 型:QTEC-4100B |
| 90308200.00 | 检测半导体晶片仪器 品牌:CRAIG 型号:10-VC082-125 | 原理:电磁感应,功能:检测半导体晶片 |
上一编码实例：90304090.00-其他无线电通讯专用仪器及装置
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