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| 商品编码 | 90308200.00 |
| 商品名称 | 测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器 |
| 商品描述 | 测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器 |
| 英文名称 | Other instruments and apparatus For measuring or checking semiconductor wafers or devices |
HS编码 90308200.00 申报实例信息,收录数 476 条
| HS编码 | 商品名称 | 商品规格 |
|---|---|---|
| 90308200.00 | 片式半导体冷热冲击检测箱 | TSA-71S-A |
| 90308200.00 | 半导体硅片测试仪 | 型号:1007/技术参数:电压110VAC,电流21A,频率:60HZ |
| 90308200.00 | 集成电路性能测试仪 | 型号PGFP5等,检测硬,软件 |
| 90308200.00 | 测试工具/用途:电视机用,品牌:飞利浦 | APC-SHA015201/功能:测试并升级电视机等集成电路的程 |
| 90308200.00 | 晶片电阻检测仪 | AX-1155B,检测半导体晶片用 |
| 90308200.00 | 在线程序输入设备夹具 | M7200244 |
| 90308200.00 | 晶片测试机 | 型号:QT4100A |
| 90308200.00 | 半导体晶片测试台 | S300 CASCADE牌 |
| 90308200.00 | 高精密数字电桥/品牌:IET,检测半导体晶片 | 1689-9700 |
| 90308200.00 | X射线芯片检测仪 | 0143/Dage牌 XD7500VR |
上一编码实例：90304090.00-其他无线电通讯专用仪器及装置
下一编码实例：90308410.00-电感及电容测试仪