商品编码 | 90308200.00 |
商品名称 | 测试或检验半导体晶圆或器件(包括集成电路)用的仪器 |
商品描述 | 测试或检验半导体晶圆或器件(包括集成电路)用的仪器 |
英文名称 | Other instruments and apparatus For measuring or checking semiconductor wafers or devices |
HS编码 90308200.00 申报实例信息,收录数 476 条
HS编码 | 商品名称 | 商品规格 |
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90308200.00 | 低压力延长测试仪 | ;;;;;210 |
90308200.00 | 颗粒碰撞噪声检测仪/检测SD碰撞 | 器件/4511L加速度2500G振动25.5B |
90308200.00 | 集成电路分捡测试臂 | D9000 |
90308200.00 | 半导体器件检验仪 | DagyBT14/八成新 |
90308200.00 | IS测试仪 | CAS140B |
90308200.00 | 硅片电阻率测试仪 | SEMILAB EPIMENT 300/06801 |
90308200.00 | 半导体检测仪: | 1用于半导体外观检测及包装IC2.型号:TR18/TR18MK11,技 |
90308200.00 | ICT针床 | 测试产品电路板短断路及各零件测试 |
90308200.00 | 自动微调机 | SFE-304TMW |
90308200.00 | 开发测试板 | WSN-PR02110CA(8350-0726-01),CROSSBOW牌 |
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