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| 商品编码 | 90308200.00 |
| 商品名称 | 测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器 |
| 商品描述 | 测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器 |
| 英文名称 | Other instruments and apparatus For measuring or checking semiconductor wafers or devices |
HS编码 90308200.00 申报实例信息,收录数 476 条
| HS编码 | 商品名称 | 商品规格 |
|---|---|---|
| 90308200.00 | 片式半导体高温高压检测箱 | EHS-211M |
| 90308200.00 | 少子寿命测试仪/SEMILAB | WT-2000PV |
| 90308200.00 | 工位测试夹具 | J410-353.0 |
| 90308200.00 | 电路网路分析仪/安捷伦牌 | 型号:8714ET 50*70*30CM |
| 90308200.00 | 自动总检机 | MD-40WX |
| 90308200.00 | 常温检查装置 | SX-5195 |
| 90308200.00 | 中检机 | MCSA |
| 90308200.00 | 探针台设备 | 型号:280SI |
| 90308200.00 | ISMECA半导体测试仪 | UPARSET |
| 90308200.00 | 集成电路测试机JUNO牌 | DTS-1000-4 |
上一编码实例：90304090.00-其他无线电通讯专用仪器及装置
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