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| 商品编码 | 90308200.00 |
| 商品名称 | 测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器 |
| 商品描述 | 测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器 |
| 英文名称 | Other instruments and apparatus For measuring or checking semiconductor wafers or devices |
HS编码 90308200.00 申报实例信息,收录数 476 条
| HS编码 | 商品名称 | 商品规格 |
|---|---|---|
| 90308200.00 | 老化测试仪 | 5030 BI STATION |
| 90308200.00 | 无接触硅片测试仪/ADE/硅片 | 厚度/8100/自动测试厚度/0.01μm |
| 90308200.00 | 半导体综合特性测试机 | ASL3000RF |
| 90308200.00 | 硅片缺陷分析仪 | YIS-150 |
| 90308200.00 | 半导体参数测试系统 | B1500A AGILENT牌 |
| 90308200.00 | 氧碳含量测试仪 | QS300 |
| 90308200.00 | 测试机 | SD-600 |
| 90308200.00 | 测试仪 | 用于测试集成电路原片的各项电性参数 |
| 90308200.00 | 快速半导体参数测试机 | PuPARSET |
| 90308200.00 | 晶体管分选仪 | S130 |
上一编码实例：90304090.00-其他无线电通讯专用仪器及装置
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