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| 商品编码 | 90308200.00 |
| 商品名称 | 测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器 |
| 商品描述 | 测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器 |
| 英文名称 | Other instruments and apparatus For measuring or checking semiconductor wafers or devices |
HS编码 90308200.00 申报实例信息,收录数 476 条
| HS编码 | 商品名称 | 商品规格 |
|---|---|---|
| 90308200.00 | VERIGY集成电路测试系统SOC | 集成电路测试93000 |
| 90308200.00 | 晶体温度特性测试仪 | W-2200B |
| 90308200.00 | 线路板电路检测装置/用于检测线路板电路是否正常 | HIOKI 1220-00 |
| 90308200.00 | 晶片检测仪/检测晶片表面粗糙度,抗光损度性能 | 型号:61841 |
| 90308200.00 | 定位器 | RESOLUTION POSDONER |
| 90308200.00 | 旧芯片台阶测试仪/八成新 | Alpha-step200 |
| 90308200.00 | 半导体芯片测试仪 | LD07M-6b |
| 90308200.00 | 篮牙测试仪组/安立知牌 | 型号:MT8852B 30*45*15CM |
| 90308200.00 | LED测试系统 | 输出量是否符合要求,型号:58153/58151/58153 |
| 90308200.00 | 二极管测试仪/PHILIPS牌/用于测试二极管的参数 | 型号：TRR-DIR/DT |
上一编码实例：90304090.00-其他无线电通讯专用仪器及装置
下一编码实例：90308410.00-电感及电容测试仪