商品编码 | 90308200.00 |
商品名称 | 测试或检验半导体晶圆或器件(包括集成电路)用的仪器 |
商品描述 | 测试或检验半导体晶圆或器件(包括集成电路)用的仪器 |
英文名称 | Other instruments and apparatus For measuring or checking semiconductor wafers or devices |
HS编码 90308200.00 申报实例信息,收录数 476 条
HS编码 | 商品名称 | 商品规格 |
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90308200.00 | 老化测试设备/Trio-Tech牌 | COBIS-Ⅱ |
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