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| 商品编码 | 90308200.00 |
| 商品名称 | 测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器 |
| 商品描述 | 测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器 |
| 英文名称 | Other instruments and apparatus For measuring or checking semiconductor wafers or devices |
HS编码 90308200.00 申报实例信息,收录数 476 条
| HS编码 | 商品名称 | 商品规格 |
|---|---|---|
| 90308200.00 | 台阶测试仪 | XP-1 |
| 90308200.00 | 太阳电池板测试仪 | DLSK-S0L3 用于测试电池板电能参数 |
| 90308200.00 | 半导体型号测试仪 | HS-1 |
| 90308200.00 | 闪光器测试台 | TL111,制造商:政木设计事务所 |
| 90308200.00 | 编带检测机/TTVISION | T-112 |
| 90308200.00 | 全自动测试机 | 长裕/EPT-620/测试发光二极管分 |
| 90308200.00 | EG硅片自动探针台（旧） | 2001X |
| 90308200.00 | 半导体老化板测试机 | WJB-1700N |
| 90308200.00 | SEMILAB单点少子寿命测试仪 | WT-1000B |
| 90308200.00 | 测试台/测试集成电路用 | 横河,AL9740 |
上一编码实例：90304090.00-其他无线电通讯专用仪器及装置
下一编码实例：90308410.00-电感及电容测试仪