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| 商品编码 | 90308200.00 |
| 商品名称 | 测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器 |
| 商品描述 | 测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器 |
| 英文名称 | Other instruments and apparatus For measuring or checking semiconductor wafers or devices |
HS编码 90308200.00 申报实例信息,收录数 476 条
| HS编码 | 商品名称 | 商品规格 |
|---|---|---|
| 90308200.00 | HP集成电路中测测试仪器 | HP 4145B |
| 90308200.00 | 半自动探测仪 | SEMI-AUTOMATIC PROBE STATION |
| 90308200.00 | 集成电路测试机 | J971 |
| 90308200.00 | 光栅 用于弯管机上 SCHWARZE牌 | 型号:2007-1581/G-3 检测管子 |
| 90308200.00 | 逻辑分析仪/AGILENT牌 | 16902A 分析和检测中央处理器和半导体主控晶片的逻辑 |
| 90308200.00 | KOHOKU牌检测电容器上导针焊接波形用波型判定器 | 型号E-041 |
| 90308200.00 | 低温真空探针台/利用低温真空环 | 境测试器件/TTP4 |
| 90308200.00 | IC测试仪 | 型号：6800 TR牌 |
| 90308200.00 | 半导体晶片检测仪 | 型号:17116/检测对象:半导体晶片 |
| 90308200.00 | 二极管测试机 | VC6700 |
上一编码实例：90304090.00-其他无线电通讯专用仪器及装置
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