商品编码 90314100.00  
商品名称 制造半导体器件(包括集成电路)时检验半导体晶圆、器件(包括集成电路)或检测光掩模或光栅用的仪器和器具
商品描述 制造半导体器件(包括集成电路)时检验半导体晶圆、器件(包括集成电路)或检测光掩模或光栅用的仪器和器具第90章其他税目未列名的
英文名称 Other optical instruments and appliances For inspecting semiconductor wafers or devices or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices
HS编码 90314100.00 申报实例信息,收录数 73 条
HS编码 商品名称 商品规格
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90314100.00 半导体颗粒测试仪(旧) 用来检测半导体晶片表面的颗粒|光路发生部分产生光束,射
90314100.00 制造半导体器件的检测仪和器具 对氮化镓、硅等半导体材料结构进行检测分析|用光学方法对氮化
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