商品编码 | 90314100.00 |
商品名称 | 制造半导体器件(包括集成电路)时检验半导体晶圆、器件(包括集成电路)或检测光掩模或光栅用的仪器和器具 |
商品描述 | 制造半导体器件(包括集成电路)时检验半导体晶圆、器件(包括集成电路)或检测光掩模或光栅用的仪器和器具第90章其他税目未列名的 |
英文名称 | Other optical instruments and appliances For inspecting semiconductor wafers or devices or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices |
HS编码 90314100.00 申报实例信息,收录数 73 条
HS编码 | 商品名称 | 商品规格 |
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90314100.00 | 硅锭载流子寿命测试系统 | ;品牌:SEMILAB;;;检测对象:半导体硅锭;型号:WT-2000D |
90314100.00 | 红外探伤测试仪 | ;品牌:SEMILAB;;;检测对象:半导体硅锭;型号:IRB-50 |
90314100.00 | 表面缺陷检测设备 | 用于检查分析蓝宝石衬底行业的表面缺陷;品牌Candela |
90314100.00 | 太阳光模拟器 | 用光学装置模拟太阳光,测试太阳能光伏组件的电性能参数,得到转换效率功率等信息,备|检测太阳能组件的iv曲线。通过模拟太阳能的照射,使太阳能电池板产生电流,并由设备自带的电脑记录以及安装的软件进行分析得出数据|Endeas|QS540LA|显示何种指标:测试组件的光电转换效率 |
90314100.00 | 变焦光学系统 | 实验室用|集成电路,半导体|无牌|无型号|无测试结果显 |
90314100.00 | 半导体膜厚测量仪(旧) | 在制造半导体器件工艺中,用于测量晶片表面镀膜的厚度|测 |
90314100.00 | 静电卡盘 | 芯片在反应室中通过在静电卡盘上依靠静电固定,进行工艺处 |
90314100.00 | 半导体颗粒测试仪(旧) | 用来检测半导体晶片表面的颗粒|光路发生部分产生光束,射 |
90314100.00 | 制造半导体器件的检测仪和器具 | 对氮化镓、硅等半导体材料结构进行检测分析|用光学方法对氮化 |
90314100.00 | 多晶硅电池片分色检验仪 | 用光学原理检验多晶硅电池片|用于检验多晶硅电池片外 |
上一编码实例:90312000.90-其他试验台
下一编码实例:90314910.00-轮廓投影仪