商品编码 90314100.00  
商品名称 制造半导体器件(包括集成电路)时检验半导体晶圆、器件(包括集成电路)或检测光掩模或光栅用的仪器和器具
商品描述 制造半导体器件(包括集成电路)时检验半导体晶圆、器件(包括集成电路)或检测光掩模或光栅用的仪器和器具第90章其他税目未列名的
英文名称 Other optical instruments and appliances For inspecting semiconductor wafers or devices or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices
HS编码 90314100.00 申报实例信息,收录数 73 条
HS编码 商品名称 商品规格
90314100.00 光栅尺 0.000.71.098.16
90314100.00 打孔检查机/用于检查线路板打孔 HA-1AME
90314100.00 光电开关用检测器具 PSR11TD5-C无测试结果显示 范围5-15MM
90314100.00 DVD光学头参数测量调整仪 O-PAS700S
90314100.00 在线光学检查仪 型号SPI HS-60L
90314100.00 光学厚度量测仪 OP-2600I
90314100.00 集成电路测试器,可测得集成电路是否短路或断路,NIDEC-READ STAR REC V5
90314100.00 电路板半导体器件光学检测仪 YTV-B3 YESTECH牌,光学对比原理,检测位置焊点等
90314100.00 检测芯片光功率用检测仪 ILX/FPM-8210 FO
90314100.00 半导体用微波检测仪 型号:MC6
 
上一编码实例:90312000.90-其他试验台
下一编码实例:90314910.00-轮廓投影仪