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| 商品编码 | 90314100.00 |
| 商品名称 | 制造半导体器件（包括集成电路）时检验半导体晶圆、器件（包括集成电路）或检测光掩模或光栅用的仪器和器具 |
| 商品描述 | 制造半导体器件（包括集成电路）时检验半导体晶圆、器件（包括集成电路）或检测光掩模或光栅用的仪器和器具第90章其他税目未列名的 |
| 英文名称 | Other optical instruments and appliances For inspecting semiconductor wafers or devices or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices |
HS编码 90314100.00 申报实例信息,收录数 73 条
| HS编码 | 商品名称 | 商品规格 |
|---|---|---|
| 90314100.00 | 检测器框架 | 检测设备外壳|起保护支撑作用|无品牌|850G ULT |
| 90314100.00 | 全自动检测机 | 检测贴片精度较低的电路板|对器件的缺漏、错位、破损、错 |
| 90314100.00 | 半导体硅片检查仪 | 用于观察、测量晶圆上，芯片加工过程中芯片表面缺陷，划痕 |
上一编码实例：90312000.90-其他试验台
下一编码实例：90314910.00-轮廓投影仪