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| 商品编码 | 90314100.00 |
| 商品名称 | 制造半导体器件（包括集成电路）时检验半导体晶圆、器件（包括集成电路）或检测光掩模或光栅用的仪器和器具 |
| 商品描述 | 制造半导体器件（包括集成电路）时检验半导体晶圆、器件（包括集成电路）或检测光掩模或光栅用的仪器和器具第90章其他税目未列名的 |
| 英文名称 | Other optical instruments and appliances For inspecting semiconductor wafers or devices or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices |
HS编码 90314100.00 申报实例信息,收录数 73 条
| HS编码 | 商品名称 | 商品规格 |
|---|---|---|
| 90314100.00 | 硅片颗粒扫描仪(旧) | 用于检测芯片表面颗粒数量和颗粒直径|测芯片表面颗粒直径和颗 |
| 90314100.00 | 半导体检测设备 | 用于半导体晶圆制造检测|检测|KLA-TENCOR|K |
| 90314100.00 | 硅晶片检测仪 | 用光学原理检测硅晶片是否有隐裂|用于检测硅晶片质 |
| 90314100.00 | 制造半导体器件的检测仪和器具 | 第90章其他品目未列名的,包括检测光掩模及光栅用的 |
| 90314100.00 | 半导体硅片检查仪(旧) | 用于观察,测量晶圆上,芯片加工过程中芯片表面缺陷,划痕 |
| 90314100.00 | 降尘试验箱 | 用于模拟环境的专用设备|被测产品性能的可靠性|HAST |
| 90314100.00 | 3D光学轮廓仪 | 测试物体表面的轮廓|利用光的干涉原理和共聚焦原理来测试 |
| 90314100.00 | 微颗粒光学检测仪 | 检查晶圆或MAST（光罩板）等表面|通过使用强光照射到 |
| 90314100.00 | LED全自动高速测试机 | 测电子元件归类;测相关参数;无牌;NCS-3102型 |
| 90314100.00 | PCB测试设备 | 用于半导体检测|检测半导体性能|无锡君浩科技有限公司| |
上一编码实例：90312000.90-其他试验台
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