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| 商品编码 | 90308200.00 |
| 商品名称 | 测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器 |
| 商品描述 | 测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器 |
| 英文名称 | Other instruments and apparatus For measuring or checking semiconductor wafers or devices |
HS编码 90308200.00 申报实例信息,收录数 476 条
| HS编码 | 商品名称 | 商品规格 |
|---|---|---|
| 90308200.00 | 晶片缺点检测机 | NSX105D/ |
| 90308200.00 | 少子寿命仪 | WT-1000 |
| 90308200.00 | 电气检查机/定制/无品牌/测试发光二极管状态 | 技术参数:AC25-264V/检测对象:发光二极管/031 |
| 90308200.00 | 测量仪 | 用于测量硅片的厚度/SMZ-166 |
| 90308200.00 | ACS-11测试台 | CLV-20 |
| 90308200.00 | 半导体分立器件测试仪,品牌:QTEC | 型:QTEC-4100A |
| 90308200.00 | 用于半导体器件老化测试的老化台 | Newport 8016 |
| 90308200.00 | 矢量网络分析仪 | 检测半导体器件微波信号用 |
| 90308200.00 | 器件抗静电/闩锁能力测试仪ORYX | 质量评价.测试.集成电路EX-11000 |
| 90308200.00 | 调试器/调试IC元器件用 | 型DV164015 |
上一编码实例：90304090.00-其他无线电通讯专用仪器及装置
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