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| 商品编码 | 90308200.00 |
| 商品名称 | 测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器 |
| 商品描述 | 测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器 |
| 英文名称 | Other instruments and apparatus For measuring or checking semiconductor wafers or devices |
HS编码 90308200.00 申报实例信息,收录数 476 条
| HS编码 | 商品名称 | 商品规格 |
|---|---|---|
| 90308200.00 | 半导体器件检测仪 | 型号:N1809A |
| 90308200.00 | 晶元测试仪 | ME1000 |
| 90308200.00 | 旧容量测定机/六成新 | 4279A/检测晶体三极管 |
| 90308200.00 | 芯片检测分类机 | HT-3309 |
| 90308200.00 | 元器件测试仪/检测元器件用 | 4288A 安捷伦牌 |
| 90308200.00 | 半导体 | 安捷伦牌,测量元器件用,4263B |
| 90308200.00 | 少子寿命测试仪 | WT-1000 |
| 90308200.00 | 工位测试夹具/测试手机主板用,用于采集数据并进行比对 | FU |
| 90308200.00 | 激光干涉仪 | 型号:EPMB00600-A02/1-18 |
| 90308200.00 | 自动DLD检查装置 | SDL-100 |
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