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您查询的海关编码(HSCODE)[9031410000] 申报要素及申报实例(↓条)等详细信息
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| 商品编码 | 90314100.00 |
| 商品名称 | 制造半导体器件（包括集成电路）时检验半导体晶圆、器件（包括集成电路）或检测光掩模或光栅用的仪器和器具 |
| 申报要素 | 1:品名;2:品牌类型;3:出口享惠情况;4:用途;5:功能;6:品牌（中文或外文名称）;7:型号;8:GTIN;9:CAS;10:其他; |
| 法定第一单位 | 台 |
| 法定第二单位 | 千克 |
| 最惠国(%) | 0 |
| 进口普通(%) | 17% |
| 出口从价关税率 | 0% |
| 增值税率 | 13% |
| 退税率(%) | 13% |
| 消费税率 | 0% |
| 商品描述 | 制造半导体器件（包括集成电路）时检验半导体晶圆、器件（包括集成电路）或检测光掩模或光栅用的仪器和器具第90章其他税目未列名的 |
| 英文名称 | Other optical instruments and appliances For inspecting semiconductor wafers or devices or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices |
特殊物品海关检验检疫编码 无
个人行邮(税号) 「27000000」
| 行邮名称 | 进口税税款 | 规格 | 单位 |
|---|---|---|---|
| 其他物品 | 30% | 无 | 件 |
海关监管条件 「无」
HS法定检验检疫 「无」
CIQ代码(13位海关编码)
| HS编码 | 商品信息 |
|---|---|
| 9031410000.999 | 制造半导体器件的检测仪和器具(第90章其他品目未列名的,包括检测光掩模及光栅用的) |
申报实例汇总
| HS编码 | 商品名称 | 商品规格 |
|---|---|---|
| 90314100.00 | 硅晶片检测仪 | 用光学原理检测硅晶片是否有隐裂|用于检测硅晶片质 |
| 90314100.00 | 半导体检测设备 | 用于半导体晶圆制造检测|检测|KLA-TENCOR|K |
| 90314100.00 | 硅片颗粒扫描仪(旧) | 用于检测芯片表面颗粒数量和颗粒直径|测芯片表面颗粒直径和颗 |
| 90314100.00 | 多晶硅电池片分色检验仪 | 用光学原理检验多晶硅电池片|用于检验多晶硅电池片外 |
| 90314100.00 | 静电卡盘 | 芯片在反应室中通过在静电卡盘上依靠静电固定，进行工艺处 |
| 90314100.00 | 制造半导体器件的检测仪和器具 | 对氮化镓、硅等半导体材料结构进行检测分析|用光学方法对氮化 |
| 90314100.00 | 半导体颗粒测试仪（旧） | 用来检测半导体晶片表面的颗粒|光路发生部分产生光束，射 |
| 90314100.00 | 半导体膜厚测量仪（旧） | 在制造半导体器件工艺中，用于测量晶片表面镀膜的厚度|测 |
| 90314100.00 | 变焦光学系统 | 实验室用|集成电路,半导体|无牌|无型号|无测试结果显 |
| 90314100.00 | DVD光学头参数测量调整仪/PULSTE | (O-PAS700S/电压100V) |
上一编码：90312000.90-其他试验台
下一编码：90314910.00-轮廓投影仪